山東高低溫冷熱冷熱沖擊試驗(yàn)箱現(xiàn)貨

山東高低溫冷熱冷熱沖擊試驗(yàn)箱現(xiàn)貨

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

 冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于確定電工、電子、和其他一些設(shè)備在存儲(chǔ)、運(yùn)輸、和使用期間可能遇到的溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性。

本系列產(chǎn)品根據(jù)試品使用的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊。既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可作單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)：

《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》GB2423.22-93 

《溫度沖擊試驗(yàn)》GJB 150.5-86 

《溫度沖擊方法》GJB 360.7-87 

《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 11158-2008

《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10589-2006

《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10592-2008

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫》GBT 2423.1-2008

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》GBT 2423.2-2008

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制